Abracon晶振OCXO的相位噪聲測試
來源：http://www.cbjur26.cn 作者：康華爾電子 2023年09月04
Abracon超低相位噪聲OCXOs的相位噪聲測試
現(xiàn)代儀器設(shè)備、商業(yè)和國防通信系統(tǒng)以及雷達設(shè)備需要卓越的穩(wěn)定性和極低的相位噪聲頻率源。使用現(xiàn)有的測試設(shè)備和方法，測試設(shè)備在偏離載波1 Hz時表現(xiàn)出-120dBc/Hz的相位噪聲，并且在噪聲基底上表現(xiàn)出優(yōu)于-180dBc/Hz，這是一個挑戰(zhàn)。它特別適用于生產(chǎn)環(huán)境，在生產(chǎn)環(huán)境中，每次測量的測量時間和準(zhǔn)確性變得至關(guān)重要。這項工作的目的是研究不同的測試方法，評估各種相位噪聲測量設(shè)備，并為低頻（約10MHz）超低相位噪聲（ULPN）參考和HF/UHF ULPN OCXO石英晶體振蕩器找到可接受的解決方案。研究了幾種測試方法和測試儀器。沒有“一刀切”的解決方案，但對于每個頻率范圍，都提出了最佳解決方案。
簡介和挑戰(zhàn)
有幾個標(biāo)準(zhǔn)定義了超低噪聲（ULPN）OCXO相位噪聲測量中使用的測試方法和設(shè)備的可接受性。這些是：
1.精度，2.重復(fù)性，3.測試速度，4.易用性，5.范圍，6.成本，7.易于數(shù)據(jù)檢索
每個特性的值還取決于測試是用于生產(chǎn)環(huán)境還是實驗室。“雙振蕩器法”[1]被排除在外，因為它不能很好地滿足前四個標(biāo)準(zhǔn)，因此只考慮了采用互相關(guān)技術(shù)的方法和設(shè)備。[1] ，[4]。低頻設(shè)備（約10.000 MHz）面臨的挑戰(zhàn)包括：
a） 在距離載波較近的偏移點，在合理的時間內(nèi)實現(xiàn)測量精度。到達距離載波較遠的噪聲基底。對于更高頻率的ULPN OCXO，特別是在100.000MHz的載波頻率下，環(huán)境中的RF污染和EMI增加了進一步的挑戰(zhàn)。
b） 對于采用鎖相環(huán)（PLL）技術(shù)來獲得更高頻率的設(shè)備，設(shè)備PLL和測試儀器的PLL的相互作用使得獲得準(zhǔn)確結(jié)果變得越來越困難。
一，低頻ULPN OCXO晶振
測試低頻OCXO的明顯設(shè)備選擇是Symmetricomm的5120A相位噪聲測試集，選項01（內(nèi)部參考）[3]，該測試集使用互相關(guān)技術(shù)。它滿足大多數(shù)既定標(biāo)準(zhǔn)，不需要額外的參考，也不需要在精確頻率上校準(zhǔn)被測器件（DUT）。10.000 MHz ULPN OCXO的相位噪聲圖如圖1所示。
Abracon超低相位噪聲OCXOs的相位噪聲測試
主要關(guān)注的是在與載波的大偏移處測量的分辨率（本底噪聲）（設(shè)備的本底噪聲（noise floor））。儀器規(guī)范（保守地）要求偏移大于10 KHz時為-168 dBc/Hz地板。理論預(yù)期在100KHz偏移及以上時接近-175dBc/Hz。決定使用Noise XT雙核噪聲測試集（DCNTS）[2]、[4]來驗證這些期望值。然而，這是一種相當(dāng)困難的測試類型。它需要兩個與DUT性能相似的參考（參考的性能越好，測試越快），參考必須具有電壓控制（能夠隨著控制端子上電壓的變化而改變頻率），并根據(jù)DUT的頻率進行精確校準(zhǔn)。同一裝置的試驗結(jié)果如圖2所示。
正如預(yù)期的那樣，遠離載波的測量相位噪聲提高了3dB到5dB，而來自幾個KHz偏移的結(jié)果的差異不是很明顯。認(rèn)識到噪聲基底上的相位噪聲是由電路決定的，并且對于給定的設(shè)計；單元間的變化可以忽略不計，選擇的儀器仍然是5120A-01。但是，在設(shè)計鑒定階段，需要驗證DCNTS上的本底噪聲值。
二、100.000 MHZ ULPN OCXO石英晶振
沒有理想的選擇來滿足所有既定的標(biāo)準(zhǔn)。我們從最準(zhǔn)確、最快的儀器開始——Noise XT的DCNTS。第一個結(jié)果令人驚訝，圖如圖所示
經(jīng)過長時間和徹底的調(diào)查，發(fā)現(xiàn)載波偏移100KHz、700KHz和900KHz的雜散“顛簸”是由來自本地調(diào)頻廣播電臺（100.1MHz、100.7MHz、99.1MHz）的廣播信號與100MHz OCXO貼片晶振信號混合引起的。在測試良好但不是ULPN 100MHz設(shè)備（其本底噪聲為-170 dBc/Hz或更高）時，這種現(xiàn)象幾乎不明顯。因此，推斷出這一挑戰(zhàn)是ULPN OCXO特有的，其相位噪聲基底約為-180 dBc/Hz，特別是在100MHz下運行，尤其是在調(diào)頻臺功率相當(dāng)高的城市地區(qū)。如果頻率遠離廣播調(diào)頻波段，則不會出現(xiàn)這種現(xiàn)象。為了糾正這一挑戰(zhàn)，采取了若干措施：
•所有電源電纜都經(jīng)過屏蔽，并通過SMA連接器連接到測試夾具。•放置大容量電解電容器用于去耦電源線•構(gòu)建了一個射頻屏蔽籠，所有測試設(shè)備都位于其中，包括電源和測試夾具，如圖4所示。
改進設(shè)置后的相位噪聲如圖5所示。還包括由Noise XT的Guillaume De Giovanni提供的關(guān)于良性（RF污染）環(huán)境中一批ULPN OCXO的數(shù)據(jù)圖。測試儀器是相同的DCNTS，使用了“平滑”功能，如圖6所示。
從易用性的角度來看，一個非常有吸引力的選擇是安捷倫的E5052B信號源分析儀[5]。對該裝置進行了額外的測試，其性能與圖5所示的類似。使用E5052B。該儀器采用內(nèi)置合成器和互相關(guān)方法。
具有不同數(shù)量的互相關(guān)和平均值的實驗圖如圖所示。7。如圖所示，該儀器可以通過足夠數(shù)量的互相關(guān)來解決ULPN設(shè)備的性能問題，但不幸的是，這需要花費大量的時間。人們必須運行測試幾個小時才能獲得儀器在所有偏移點的本底噪聲-低到足以實現(xiàn)準(zhǔn)確測量。這將排除在生產(chǎn)環(huán)境中使用該儀器的可能性，但它在研發(fā)中仍然有用，因為它不需要額外的參考或校準(zhǔn)參考和設(shè)備（設(shè)置精確的頻率）等。此外，如果設(shè)備在遠離載波頻率的本底噪聲上的性能是唯一需要的參數(shù)，可以顯著減少測量時間。
從成本角度來看，有一種由瑞士Anapico APPH6000[6]公司制造的新儀器。它沒有DCNTS系統(tǒng)那么多的選項和功能，并且仍在改進GUI和固件的過程中，但它的測試速度相當(dāng)快，可以在生產(chǎn)環(huán)境中成功使用。然而，測試結(jié)果不如其他儀器那樣直觀。示例如圖8所示。
三、 帶乘法的ULPN OCXO
A.模擬諧波乘法
我們在Noise XT的DCNTS上測試了幾種ULPN OCXO，它們采用了模擬諧波乘法，參考頻率從10MHz到100MHz，乘法因子從2到15。該儀器處理測試時沒有出現(xiàn)問題，其中一些示例如圖9所示。通過圖12。
在E5052B上的其中一個單元（100.000 MHz，乘以10.000 MHz）上進行了額外的測試，具有不同數(shù)量的互相關(guān)和平均值。該圖如圖13所示。與無乘法測試ULPN設(shè)備類似，盡管使用方便，但在生產(chǎn)環(huán)境中，實現(xiàn)有意義的分辨率所需的測試速度是不可接受的。在1000個相互關(guān)聯(lián)的情況下，第一個痕跡（平均1個）出現(xiàn)需要2.5個多小時。
B.帶PLL乘法的ULPN OCXO
為了實現(xiàn)“兩全其美”，即將低頻（10MHz）ULPN OCXO石英晶體振蕩器的最佳接近載波相位噪聲、短期、長期和環(huán)境穩(wěn)定性與高頻（100MHz）ULPN OCXO噪聲基底上的最低相位噪聲相結(jié)合，后者與前者鎖定為低噪聲PLL，就像在NEL的雙頻參考模塊（DFRM）中所做的那樣。10MHz輸出的測試可以按照第一章中的描述進行，而不會帶來任何額外的挑戰(zhàn)。
當(dāng)以另外兩個DFRM作為參考進行測試時，越來越難以獲得100MHz輸出的真實測試結(jié)果。內(nèi)部PLL與儀器PLL的相互作用，以及模塊控制端口上的必要濾波，在相位噪聲圖中產(chǎn)生偽影，使數(shù)據(jù)大多不可用。唯一可行的方法是使用不同的引用，針對不同的偏移范圍進行測試，然后將它們連接起來。這項工作的結(jié)果如圖14所示。對于更高的頻率偏移，使用100MHz的非相乘ULPN OCXO作為參考。這些都是通過儀器的PLL使用的電壓控制自由運行的。對于較低的頻率偏移，使用100MHz的ULPN OCXO，該OCXO與10MHz的參考諧波相乘。拼接點在100Hz，剛好低于內(nèi)部PLL環(huán)路帶寬。
Abracon超低相位噪聲OCXOs的相位噪聲測試
ULPN OCXO的相位噪聲測試需要使用互相關(guān)技術(shù)。必須特別注意減少射頻干擾，尤其是在強調(diào)頻廣播電臺附近測試100 MHz ULPN OCXO時。現(xiàn)成設(shè)備的選擇是有限的，儀器適用于不同類型的DUT和不同的測試目的。
現(xiàn)代儀器設(shè)備、商業(yè)和國防通信系統(tǒng)以及雷達設(shè)備需要卓越的穩(wěn)定性和極低的相位噪聲頻率源。使用現(xiàn)有的測試設(shè)備和方法，測試設(shè)備在偏離載波1 Hz時表現(xiàn)出-120dBc/Hz的相位噪聲，并且在噪聲基底上表現(xiàn)出優(yōu)于-180dBc/Hz，這是一個挑戰(zhàn)。它特別適用于生產(chǎn)環(huán)境，在生產(chǎn)環(huán)境中，每次測量的測量時間和準(zhǔn)確性變得至關(guān)重要。這項工作的目的是研究不同的測試方法，評估各種相位噪聲測量設(shè)備，并為低頻（約10MHz）超低相位噪聲（ULPN）參考和HF/UHF ULPN OCXO石英晶體振蕩器找到可接受的解決方案。研究了幾種測試方法和測試儀器。沒有“一刀切”的解決方案，但對于每個頻率范圍，都提出了最佳解決方案。
簡介和挑戰(zhàn)
有幾個標(biāo)準(zhǔn)定義了超低噪聲（ULPN）OCXO相位噪聲測量中使用的測試方法和設(shè)備的可接受性。這些是：
1.精度，2.重復(fù)性，3.測試速度，4.易用性，5.范圍，6.成本，7.易于數(shù)據(jù)檢索
每個特性的值還取決于測試是用于生產(chǎn)環(huán)境還是實驗室。“雙振蕩器法”[1]被排除在外，因為它不能很好地滿足前四個標(biāo)準(zhǔn)，因此只考慮了采用互相關(guān)技術(shù)的方法和設(shè)備。[1] ，[4]。低頻設(shè)備（約10.000 MHz）面臨的挑戰(zhàn)包括：
a） 在距離載波較近的偏移點，在合理的時間內(nèi)實現(xiàn)測量精度。到達距離載波較遠的噪聲基底。對于更高頻率的ULPN OCXO，特別是在100.000MHz的載波頻率下，環(huán)境中的RF污染和EMI增加了進一步的挑戰(zhàn)。
b） 對于采用鎖相環(huán)（PLL）技術(shù)來獲得更高頻率的設(shè)備，設(shè)備PLL和測試儀器的PLL的相互作用使得獲得準(zhǔn)確結(jié)果變得越來越困難。
一，低頻ULPN OCXO晶振
測試低頻OCXO的明顯設(shè)備選擇是Symmetricomm的5120A相位噪聲測試集，選項01（內(nèi)部參考）[3]，該測試集使用互相關(guān)技術(shù)。它滿足大多數(shù)既定標(biāo)準(zhǔn)，不需要額外的參考，也不需要在精確頻率上校準(zhǔn)被測器件（DUT）。10.000 MHz ULPN OCXO的相位噪聲圖如圖1所示。
Abracon
主要關(guān)注的是在與載波的大偏移處測量的分辨率（本底噪聲）（設(shè)備的本底噪聲（noise floor））。儀器規(guī)范（保守地）要求偏移大于10 KHz時為-168 dBc/Hz地板。理論預(yù)期在100KHz偏移及以上時接近-175dBc/Hz。決定使用Noise XT雙核噪聲測試集（DCNTS）[2]、[4]來驗證這些期望值。然而，這是一種相當(dāng)困難的測試類型。它需要兩個與DUT性能相似的參考（參考的性能越好，測試越快），參考必須具有電壓控制（能夠隨著控制端子上電壓的變化而改變頻率），并根據(jù)DUT的頻率進行精確校準(zhǔn)。同一裝置的試驗結(jié)果如圖2所示。
正如預(yù)期的那樣，遠離載波的測量相位噪聲提高了3dB到5dB，而來自幾個KHz偏移的結(jié)果的差異不是很明顯。認(rèn)識到噪聲基底上的相位噪聲是由電路決定的，并且對于給定的設(shè)計；單元間的變化可以忽略不計，選擇的儀器仍然是5120A-01。但是，在設(shè)計鑒定階段，需要驗證DCNTS上的本底噪聲值。
二、100.000 MHZ ULPN OCXO石英晶振
沒有理想的選擇來滿足所有既定的標(biāo)準(zhǔn)。我們從最準(zhǔn)確、最快的儀器開始——Noise XT的DCNTS。第一個結(jié)果令人驚訝，圖如圖所示
經(jīng)過長時間和徹底的調(diào)查，發(fā)現(xiàn)載波偏移100KHz、700KHz和900KHz的雜散“顛簸”是由來自本地調(diào)頻廣播電臺（100.1MHz、100.7MHz、99.1MHz）的廣播信號與100MHz OCXO貼片晶振信號混合引起的。在測試良好但不是ULPN 100MHz設(shè)備（其本底噪聲為-170 dBc/Hz或更高）時，這種現(xiàn)象幾乎不明顯。因此，推斷出這一挑戰(zhàn)是ULPN OCXO特有的，其相位噪聲基底約為-180 dBc/Hz，特別是在100MHz下運行，尤其是在調(diào)頻臺功率相當(dāng)高的城市地區(qū)。如果頻率遠離廣播調(diào)頻波段，則不會出現(xiàn)這種現(xiàn)象。為了糾正這一挑戰(zhàn)，采取了若干措施：
•所有電源電纜都經(jīng)過屏蔽，并通過SMA連接器連接到測試夾具。•放置大容量電解電容器用于去耦電源線•構(gòu)建了一個射頻屏蔽籠，所有測試設(shè)備都位于其中，包括電源和測試夾具，如圖4所示。
改進設(shè)置后的相位噪聲如圖5所示。還包括由Noise XT的Guillaume De Giovanni提供的關(guān)于良性（RF污染）環(huán)境中一批ULPN OCXO的數(shù)據(jù)圖。測試儀器是相同的DCNTS，使用了“平滑”功能，如圖6所示。
從易用性的角度來看，一個非常有吸引力的選擇是安捷倫的E5052B信號源分析儀[5]。對該裝置進行了額外的測試，其性能與圖5所示的類似。使用E5052B。該儀器采用內(nèi)置合成器和互相關(guān)方法。
具有不同數(shù)量的互相關(guān)和平均值的實驗圖如圖所示。7。如圖所示，該儀器可以通過足夠數(shù)量的互相關(guān)來解決ULPN設(shè)備的性能問題，但不幸的是，這需要花費大量的時間。人們必須運行測試幾個小時才能獲得儀器在所有偏移點的本底噪聲-低到足以實現(xiàn)準(zhǔn)確測量。這將排除在生產(chǎn)環(huán)境中使用該儀器的可能性，但它在研發(fā)中仍然有用，因為它不需要額外的參考或校準(zhǔn)參考和設(shè)備（設(shè)置精確的頻率）等。此外，如果設(shè)備在遠離載波頻率的本底噪聲上的性能是唯一需要的參數(shù)，可以顯著減少測量時間。
從成本角度來看，有一種由瑞士Anapico APPH6000[6]公司制造的新儀器。它沒有DCNTS系統(tǒng)那么多的選項和功能，并且仍在改進GUI和固件的過程中，但它的測試速度相當(dāng)快，可以在生產(chǎn)環(huán)境中成功使用。然而，測試結(jié)果不如其他儀器那樣直觀。示例如圖8所示。
三、 帶乘法的ULPN OCXO
A.模擬諧波乘法
我們在Noise XT的DCNTS上測試了幾種ULPN OCXO，它們采用了模擬諧波乘法，參考頻率從10MHz到100MHz，乘法因子從2到15。該儀器處理測試時沒有出現(xiàn)問題，其中一些示例如圖9所示。通過圖12。
在E5052B上的其中一個單元（100.000 MHz，乘以10.000 MHz）上進行了額外的測試，具有不同數(shù)量的互相關(guān)和平均值。該圖如圖13所示。與無乘法測試ULPN設(shè)備類似，盡管使用方便，但在生產(chǎn)環(huán)境中，實現(xiàn)有意義的分辨率所需的測試速度是不可接受的。在1000個相互關(guān)聯(lián)的情況下，第一個痕跡（平均1個）出現(xiàn)需要2.5個多小時。
B.帶PLL乘法的ULPN OCXO
為了實現(xiàn)“兩全其美”，即將低頻（10MHz）ULPN OCXO石英晶體振蕩器的最佳接近載波相位噪聲、短期、長期和環(huán)境穩(wěn)定性與高頻（100MHz）ULPN OCXO噪聲基底上的最低相位噪聲相結(jié)合，后者與前者鎖定為低噪聲PLL，就像在NEL的雙頻參考模塊（DFRM）中所做的那樣。10MHz輸出的測試可以按照第一章中的描述進行，而不會帶來任何額外的挑戰(zhàn)。
當(dāng)以另外兩個DFRM作為參考進行測試時，越來越難以獲得100MHz輸出的真實測試結(jié)果。內(nèi)部PLL與儀器PLL的相互作用，以及模塊控制端口上的必要濾波，在相位噪聲圖中產(chǎn)生偽影，使數(shù)據(jù)大多不可用。唯一可行的方法是使用不同的引用，針對不同的偏移范圍進行測試，然后將它們連接起來。這項工作的結(jié)果如圖14所示。對于更高的頻率偏移，使用100MHz的非相乘ULPN OCXO作為參考。這些都是通過儀器的PLL使用的電壓控制自由運行的。對于較低的頻率偏移，使用100MHz的ULPN OCXO，該OCXO與10MHz的參考諧波相乘。拼接點在100Hz，剛好低于內(nèi)部PLL環(huán)路帶寬。
Abracon
ULPN OCXO的相位噪聲測試需要使用互相關(guān)技術(shù)。必須特別注意減少射頻干擾，尤其是在強調(diào)頻廣播電臺附近測試100 MHz ULPN OCXO時。現(xiàn)成設(shè)備的選擇是有限的，儀器適用于不同類型的DUT和不同的測試目的。
| 原廠編碼 | 進口晶振 | 系列 | 類型 | 頻率 | 電壓 |
| AOCJY1-10.000MHZ-E-SW | Abracon晶振 | AOCJY1 | OCXO | 10MHz | 3.3V |
| AOCJY-10.000MHZ-F | Abracon晶振 | AOCJY | OCXO | 10MHz | 3.3V |
| AOCJY-10.000MHZ-E | Abracon晶振 | AOCJY | OCXO | 10MHz | 3.3V |
| AOCJY-10.000MHZ | Abracon晶振 | AOCJY | OCXO | 10MHz | 3.3V |
| AOCJY3A-10.000MHZ-E | Abracon晶振 | AOCJY3 | OCXO | 10MHz | 5V |
| AOCJY3B-100.000MHZ-E-SW | Abracon晶振 | AOCJY3 | OCXO | 100MHz | 12V |
| AOCJY2A-10.000MHZ-F-SW | Abracon晶振 | AOCJY2 | OCXO | 10MHz | 5V |
| AOCJY2-10.000MHZ-E | Abracon晶振 | AOCJY2 | OCXO | 10MHz | 3.3V |
| AOCJY3B-10.000MHZ-E-SW | Abracon晶振 | AOCJY3 | OCXO | 10MHz | 12V |
| AOCJY-38.880MHZ-E | Abracon晶振 | AOCJY | OCXO | 38.88MHz | 3.3V |
| AOCJY3A-10.000MHZ-F | Abracon晶振 | AOCJY3 | OCXO | 10MHz | 5V |
| AOCJY-20.000MHZ | Abracon晶振 | AOCJY | OCXO | 20MHz | 3.3V |
| AOCJYR-10.000MHZ-M5625LF | Abracon晶振 | AOCJYR | OCXO | 10MHz | 3.3V |
| AOCJYR-20.000MHZ-M5627LF | Abracon晶振 | AOCJYR | OCXO | 20MHz | 3.3V |
| AOCJY-100.000MHZ-F | Abracon晶振 | AOCJY | OCXO | 100MHz | 3.3V |
| AOCJY1-100.000MHZ | Abracon晶振 | AOCJY1 | OCXO | 100MHz | 3.3V |
| AOCJY1-10.000MHZ | Abracon晶振 | AOCJY1 | OCXO | 10MHz | 3.3V |
| AOCJY1A-10.000MHZ | Abracon晶振 | AOCJY1 | OCXO | 10MHz | 5V |
| AOCJY-20.000MHZ-F | Abracon晶振 | AOCJY | OCXO | 20MHz | 3.3V |
| AOCJY2-100.000MHZ-E | Abracon晶振 | AOCJY2 | OCXO | 100MHz | 3.3V |
| AOCJY3-100.000MHZ-E-SW | Abracon晶振 | AOCJY3 | OCXO | 100MHz | 3.3V |
| AOCJY7TQ-X-100.000MHZ-1 | Abracon晶振 | AOCJY7TQ | OCXO | 100MHz | 12V |
| AOCJY1A-100.000MHZ | Abracon晶振 | AOCJY1 | OCXO | 100MHz | 5V |
| AOCJY1-100.000MHZ-E-SW | Abracon晶振 | AOCJY1 | OCXO | 100MHz | 3.3V |
| AOCJY1A-100.000MHZ-E | Abracon晶振 | AOCJY1 | OCXO | 100MHz | 5V |
| AOCJY1A-10.000MHZ-E | Abracon晶振 | AOCJY1 | OCXO | 10MHz | 5V |
| AOCJY-20.000MHZ-E | Abracon晶振 | AOCJY | OCXO | 20MHz | 3.3V |
| AOCJY-12.800MHZ | Abracon晶振 | AOCJY | OCXO | 12.8MHz | 3.3V |
| AOCJY3A-10.000MHZ | Abracon晶振 | AOCJY3 | OCXO | 10MHz | 5V |
| AOCJY2A-10.000MHZ | Abracon晶振 | AOCJY2 | OCXO | 10MHz | 5V |
| AOCJY3B-10.000MHZ | Abracon晶振 | AOCJY3 | OCXO | 10MHz | 12V |
| AOCJY2-10.000MHZ | Abracon晶振 | AOCJY2 | OCXO | 10MHz | 3.3V |
| AOCJY2-100.000MHZ-E-SW | Abracon晶振 | AOCJY2 | OCXO | 100MHz | 3.3V |
| AOCJY2-10.000MHZ-E-SW | Abracon晶振 | AOCJY2 | OCXO | 10MHz | 3.3V |
| AOCJY3-100.000MHZ-F | Abracon晶振 | AOCJY3 | OCXO | 100MHz | 3.3V |
| AOCJY2-100.000MHZ-F | Abracon晶振 | AOCJY2 | OCXO | 100MHz | 3.3V |
| AOCJY4A-10.000MHZ-SW | Abracon晶振 | AOCJY4 | OCXO | 10MHz | 5V |
| AOCJY4B-10.000MHZ-SW | Abracon晶振 | AOCJY4 | OCXO | 10MHz | 12V |
| AOCTQ5-V-10.000MHZ-I5 | Abracon晶振 | AOCTQ5 | OCXO | 10MHz | 5V |
| AOCJY4A-10.000MHZ-F-SW | Abracon晶振 | AOCJY4 | OCXO | 10MHz | 5V |
| AOCJY4B-10.000MHZ-F-SW | Abracon晶振 | AOCJY4 | OCXO | 10MHz | 12V |
| AOCTQ5-V-10.000MHZ-M10 | Abracon晶振 | AOCTQ5 | OCXO | 10MHz | 5V |
| AOCTQ5-X-10.000MHZ-I3 | Abracon晶振 | AOCTQ5 | OCXO | 10MHz | 5V |
| AOCTQ5-V-10.000MHZ-I3-SW | Abracon晶振 | AOCTQ5 | OCXO | 10MHz | 5V |
| AOCTQ5-X-10.000MHZ-I3-SW | Abracon晶振 | AOCTQ5 | OCXO | 10MHz | 5V |
| AOCTQ5-X-10.000MHZ-M5 | Abracon晶振 | AOCTQ5 | OCXO | 10MHz | 5V |
| AOCJY5-10.000MHZ | Abracon晶振 | AOCJY5 | OCXO | 10MHz | 12V |
| AOCJY6-10.000MHZ-5 | Abracon晶振 | AOCJY6 | OCXO | 10MHz | 12V |
| AOCJY7TQ-X-100.000MHZ-5 | Abracon晶振 | AOCJY7TQ | OCXO | 100MHz | 12V |
| AOCJY-12.800MHZ-E | Abracon晶振 | AOCJY | OCXO | 12.8MHz | 3.3V |
| AOCJY-38.880MHZ-F | Abracon晶振 | AOCJY | OCXO | 38.88MHz | 3.3V |
| AOCJY3-10.000MHZ | Abracon晶振 | AOCJY3 | OCXO | 10MHz | 3.3V |
| AOCJY3B-10.000MHZ-E | Abracon晶振 | AOCJY3 | OCXO | 10MHz | 12V |
| AOCJY3-10.000MHZ-E-SW | Abracon晶振 | AOCJY3 | OCXO | 10MHz | 3.3V |
| AOCJY3B-12.800MHZ-E | Abracon晶振 | AOCJY3 | OCXO | 12.8MHz | 12V |
| AOCJY3-10.000MHZ-F | Abracon晶振 | AOCJY3 | OCXO | 10MHz | 3.3V |
| AOCJY3B-100.000MHZ-F | Abracon晶振 | AOCJY3 | OCXO | 100MHz | 12V |
| AOCTQ5-X-10.000MHZ-I5-SW | Abracon晶振 | AOCTQ5 | OCXO | 10MHz | 5V |
| AOCTQ5-V-10.000MHZ-I5-SW | Abracon晶振 | AOCTQ5 | OCXO | 10MHz | 5V |
| AOCTQ5-X-10.000MHZ-I5 | Abracon晶振 | AOCTQ5 | OCXO | 10MHz | 5V |
| AOCJY4A-12.800MHZ-F-SW | Abracon晶振 | AOCJY4 | OCXO | 12.8MHz | 5V |
| AOCTQ5-X-10.000MHZ-M10-SW | Abracon晶振 | AOCTQ5 | OCXO | 10MHz | 5V |
| AOCTQ5-X-10.000MHZ-M5-SW | Abracon晶振 | AOCTQ5 | OCXO | 10MHz | 5V |
| AOCJY7TQ-X-100.000MHZ-2 | Abracon晶振 | AOCJY7TQ | OCXO | 100MHz | 12V |
| AOCJYR-24.576MHZ-M6069LF | Abracon晶振 | AOCJYR | OCXO | 24.576MHz | 3.3V |
| AOCJYR-24.576MHZ-M5834LF | Abracon晶振 | AOCJYR | OCXO | 24.576MHz | 3.3V |
| AOCJYR-12.800MHZ-M5649LF | Abracon晶振 | AOCJYR | OCXO | 12.8MHz | 3.3V |
| AOCJY2-10.000MHZ-F | Abracon晶振 | AOCJY2 | OCXO | 10MHz | 3.3V |
| AOCJY3B-10.000MHZ-F | Abracon晶振 | AOCJY3 | OCXO | 10MHz | 12V |
| AOCJY4B-12.800MHZ-F-SW | Abracon晶振 | AOCJY4 | OCXO | 12.8MHz | 12V |
| AOCTQ5-X-10.000MHZ-M10 | Abracon晶振 | AOCTQ5 | OCXO | 10MHz | 5V |
| AOCTQ5-V-10.000MHZ-M10-SW | Abracon晶振 | AOCTQ5 | OCXO | 10MHz | 5V |
| AOCTQ5-V-10.000MHZ-I3 | Abracon晶振 | AOCTQ5 | OCXO | 10MHz | 5V |
| AOCTQ5-V-10.000MHZ-M5 | Abracon晶振 | AOCTQ5 | OCXO | 10MHz | 5V |
| AOCTQ5-V-10.000MHZ-M5-SW | Abracon晶振 | AOCTQ5 | OCXO | 10MHz | 5V |
| AOCJY-100.000MHZ-E | Abracon晶振 | AOCJY | OCXO | 100MHz | 3.3V |
| AOCJY-100.000MHZ | Abracon晶振 | AOCJY | OCXO | 100MHz | 3.3V |
| AOCJY2A-100.000MHZ-F-SW | Abracon晶振 | AOCJY2 | OCXO | 100MHz | 5V |
| AOCJY3A-100.000MHZ-E | Abracon晶振 | AOCJY3 | OCXO | 100MHz | 5V |
| AOCJY3A-100.000MHZ-F | Abracon晶振 | AOCJY3 | OCXO | 100MHz | 5V |
| AOCJY2A-100.000MHZ-E | Abracon晶振 | AOCJY2 | OCXO | 100MHz | 5V |
| AOCJYR-24.576MHZ-M6069LF-T | Abracon晶振 | AOCJYR | OCXO | 24.576MHz | 3.3V |
| AOCJYR-10.000MHZ-M5625LF-T | Abracon晶振 | AOCJYR | OCXO | 10MHz | 3.3V |
| AOCJYR-24.576MHZ-M5834LF-T | Abracon晶振 | AOCJYR | OCXO | 24.576MHz | 3.3V |
| AOCJYR-12.800MHZ-M5649LF-T | Abracon晶振 | AOCJYR | OCXO | 12.8MHz | 3.3V |
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